半导体冲击试验箱-标承实验仪器-冲击试验箱

  冲击试验产品的温度要求

对于试验温度有规定的，其温度偏差如下：

gb——应在规定温度±2℃范围内进行；en——应在规定温度±2℃范围内进行；

astm——应在规定温度±1℃范围内进行。若果没有规定，冲击试验箱，在室温下进行冲击试验：

gb——23℃±5℃；en——23℃±5℃；astm——20℃±5℃。

用于夹持试样的钳子应与试样保持相同的温度。

高低温冲击箱温度范围：0℃-150℃-20℃-150℃-40℃-150℃-60℃-150℃-70℃-150℃（或200℃）也可按客户需要定制非标试箱，温度冲击方法:垂直两箱/垂直三箱法(两箱式冷热冲击试验箱/三箱式冷热冲击试验箱温度转换时间:从低温区到高温区或从区到低温区≤15s温度回复时间:≤5min（与温度恢复条件有关，既冷却水温、暴露温差、恒温时间、样品重量有关）温度波度：0.5℃（空载时）温度偏差：≤±2℃升降温平均速率：0.7℃～1.0℃/min （空载时）样品区承重20kg 30kg 50kg 时间设定范0～9999 小时电源要求：ac380v 符合标准本产品满足gjb150.3－86 gjb150.4－86gjb150.5-86高低温冲击试验。当冷热冲击试验箱出现上述故障时，如果使用者没有一定的电工基础，请尽快时间通知和晟仪器---上门检修并及时的维修冷热冲击试验箱，以免造成更---的故障使得维修修理冷热冲击。技术条件进行设计制造，并可按军标试验

求及非标准制作各种高低温环境试验。